Zeiss Xradia 510 Versa mit bahnbrechender Flexibilität

Durchbrechen Sie mit diesem Röntgenmikroskop die Hindernisse einer 1-Mikrometer-Auflösung für 3D-Bildgebung und in situ / 4D-Studien.

Die Kombination von Auflösung und Kontrast mit flexiblen Arbeitsabständen erweitert die nicht-destruktive Bildgebungskapazität im Labor.

Dank seiner Konstruktion mit zweistufiger Vergrößerungstechnik kann eine Submikron-Auflösung auf weite Entfernungen (RaaD) erreicht werden. Reduzieren Sie die Abhängigkeit von geometrischen Vergrößerungen und erhalten die Submikron-Auflösung auch bei größeren Arbeitsabständen.

Vielseitigkeit ist auch bei großen Arbeitsabständen von der Lichtquelle (von mm m bis cm) möglich.

3D-Bildgebung von weichen oder niedrigen Z-Materialien mit fortschrittlichen Absorptionsfähigkeiten und innovativen Linierungen

Weltführende Auflösung auf flexiblen Arbeitsabständen über die Grenzen der projektiven Micro-CT hinaus

Lösung von Submikrometer-Charakteristiken für verschiedene Probengröße

Verlustfreie Bildgebung des Labors mit On-Site/4D-Lösungen erweitern

Untersuchung von Materialien im Laufe der Zeit in einer nativen Umgebung

Durchsatz der Bildqualität

　　Zeiss erweiterte WiederaufbauwerkzeugkasteBessere Bildqualität, höherer Durchsatz

Die Advanced Reconstruction Toolbox ist die innovative Plattform des ZEISS Xradia 3D-Röntgenmikroskops für den Zugriff auf fortschrittliche Rekonstruktionstechniken. Die einzigartigen Module nutzen ein tiefes Verständnis der Röntgenphysikprinzipien und Kundenanwendungen, um die schwierigsten Herausforderungen der Bildgebung auf innovative Weise zu lösen.

Hier finden Sie Informationen zu den neuesten technischen Fortschritten in der Röntgenmikroskopie:

Mit der "Advanced Recovery Toolbox" können Sie:

Verbesserung der Datenerfassung und -analyse für eine genaue und schnelle Entscheidungsfindung

Bildqualität erheblich verbessert

Ausgezeichnete interne Schichtbildgebung oder Durchfluss auf mehreren Proben

Aufdecken von Nuancen durch Verbesserung des Kontrastes

Erhöhen Sie die Geschwindigkeit um eine Größenordnung für Probenkategorien, die sich wiederholende Arbeitsabläufe erfordern

　　Rekonstruktionstechnologie mit KI Supercharger 3D-Röntgenbildung

Eine der größten Herausforderungen bei der Anwendung des Röntgenmikroskops bei der Lösung akademischer und industrieller Probleme besteht darin, Kompromisse zwischen Bildfluss und Bildqualität zu finden. Die Erfassungszeit für eine hochauflösende 3D-Röntgenmikroskopie kann in der Größenordnung von Stunden liegen und kann zu äußerst anspruchsvollen Berechnungen der Rendite auf Investition (ROI) führen, wenn die relativen Vorteile einer hochpräzisen 3D-Analyse mit billigen, schlechteren Analysetechniken ausgewogen werden.

Um dieses Problem zu lösen, muss jeder Schritt zur Erzeugung von bedienbaren Informationen aus diesen Mikroskopen optimiert werden. Bei der 3D-Röntgentomographie umfassen diese Schritte in der Regel die Installation der Probe, die Scaneinstellung, die 2D-Projektionsbilderfassung, die 2D-zu-3D-Bildrekonstruktion, die Nachbearbeitung und Teilung des Bildes sowie die endgültige Analyse.

　　Zeiss DeepRecon wiederholt Proben mit zehnmal schnellem Bildfluss

ZEISS DeepRecon für ZEISS Xradia XRM ist die erste kommerziell verfügbare Deep Learning-Rekonstruktionstechnologie. Es ermöglicht es Ihnen, den Durchsatz um eine Größenordnung zu erhöhen (bis zum 10-fachen), ohne die neue XRM-Fernauflösung für wiederkehrende Workflow-Anwendungen zu opfern. DeepRecon sammelt einzigartig versteckte Möglichkeiten in den von XRM generierten Big Data und bietet erhebliche Geschwindigkeits- oder Bildqualitätsverbesserungen, die durch KI angetrieben werden.