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BMM-230DIC Differenzialinterferenzmikroskop
BMM-230DIC Differenzialinterferenzmikroskop
Produktdetails

  • BMM-230DIC ist für die mikroskopische Beobachtung einer Vielzahl von Objekten geeignet. Die Konfiguration des landenden DIC-Beobachtungssystems mit unendlichen Langstrecken-Flachfeld-Farbdifferenz-Objektiven, Groß-Sichtfeld-Brillen und polarisierenden Beobachtungsgeräten, mit Stereo-Bildgefühl und Klarheit, schöner Gestaltung, einfacher Bedienung und anderen Merkmalen, ist das ideale Instrument für die Forschung in der Biologie, Metallologie, Mineralogie, Ingenieurwesen, Elektronik und anderen Bereichen.









    Standardkonfiguration

    Technische Daten
    Brille
    Großes Sichtfeld WF10X (Anzahl der Sichtfelder Φ22mm)
    Unbegrenzte Ferne
    Farbdifferenz Objektiv
    Unbegrenzte Langstrecke Flachfeld Farbdifferenz Objektiv (ohne Abdeckung)
    LMPlan5X/0.12DIC Arbeitsabstand: 18,2 mm
    LMPlan10X/0.25DIC Arbeitsabstand: 20,2 mm
    LMPlan20X/0.35DIC Arbeitsabstand: 6,0 mm
    PL L50X/0.70 Arbeitsabstand: 3,68 mm
    Differential-Interferenz-Lining-Platte
    Für LMPlan5X, 10X und 20X DIC Objektive
    Brille
    45° Neigung, Augenaufstandseinstellungsbereich von 53 bis 75 mm.
    Fokussierungsorgane
    Grobe Mikrodynamische Koaxialfokussierung mit Verriegelung und Positionsbegrenzung, Mikrodynamikvert: 2,0 μm.
    Konverter
    Fünf Löcher (innere Position der Kugel)
    Laststelle
    Mechanische bewegliche Tragstische, Formgröße: 242mmX200mm, Bewegungsbereich 30mmX30mm.
    Runde drehbare Tragplattengröße: Maximaler Außendurchmesser Ф130mm, Mindestdurchmesser kleiner als Ф12mm.
    Beleuchtungssystem
    12V50W Halogenlampe mit verstellbarer Helligkeit
    Integrierter Sichtfeld-Lichtpendenz, Apertur-Lichtpendenz und Pullover
    Gelbes, grünes und blaues Filterglas

    Systemzusammensetzung:

    Computertyp (BMM-230DIC-V): 1, Metallphasemikroskop 2, Adapterspiegel 3, Kamera (USB) 4, Computer (optional)

    Digitalkameratyp (BMM-230DIC-C): 1, Metallmikroskop 2, Adapterspiegel 3, Digitalkamera

    Auswahl:

    1, 2D-MesssoftwareBT-2000M 2Metallanalyse SoftwareBT-JX2000


  • BMM-230DIC ist für die mikroskopische Beobachtung einer Vielzahl von Objekten geeignet. Die Konfiguration des landenden DIC-Beobachtungssystems mit unendlichen Langstrecken-Flachfeld-Farbdifferenz-Objektiven, Groß-Sichtfeld-Brillen und polarisierenden Beobachtungsgeräten, mit Stereo-Bildgefühl und Klarheit, schöner Gestaltung, einfacher Bedienung und anderen Merkmalen, ist das ideale Instrument für die Forschung in der Biologie, Metallologie, Mineralogie, Ingenieurwesen, Elektronik und anderen Bereichen.









    Standardkonfiguration

    Technische Daten
    Brille
    Großes Sichtfeld WF10X (Anzahl der Sichtfelder Φ22mm)
    Unbegrenzte Ferne
    Farbdifferenz Objektiv
    Unbegrenzte Langstrecke Flachfeld Farbdifferenz Objektiv (ohne Abdeckung)
    LMPlan5X/0.12DIC Arbeitsabstand: 18,2 mm
    LMPlan10X/0.25DIC Arbeitsabstand: 20,2 mm
    LMPlan20X/0.35DIC Arbeitsabstand: 6,0 mm
    PL L50X/0.70 Arbeitsabstand: 3,68 mm
    Differential-Interferenz-Lining-Platte
    Für LMPlan5X, 10X und 20X DIC Objektive
    Brille
    45° Neigung, Augenaufstandseinstellungsbereich von 53 bis 75 mm.
    Fokussierungsorgane
    Grobe Mikrodynamische Koaxialfokussierung mit Verriegelung und Positionsbegrenzung, Mikrodynamikvert: 2,0 μm.
    Konverter
    Fünf Löcher (innere Position der Kugel)
    Laststelle
    Mechanische bewegliche Tragstische, Formgröße: 242mmX200mm, Bewegungsbereich 30mmX30mm.
    Runde drehbare Tragplattengröße: Maximaler Außendurchmesser Ф130mm, Mindestdurchmesser kleiner als Ф12mm.
    Beleuchtungssystem
    12V50W Halogenlampe mit verstellbarer Helligkeit
    Integrierter Sichtfeld-Lichtpendenz, Apertur-Lichtpendenz und Pullover
    Gelbes, grünes und blaues Filterglas

    Systemzusammensetzung:

    Computertyp (BMM-230DIC-V): 1, Metallphasemikroskop 2, Adapterspiegel 3, Kamera (USB) 4, Computer (optional)

    Digitalkameratyp (BMM-230DIC-C): 1, Metallmikroskop 2, Adapterspiegel 3, Digitalkamera

    Auswahl:

    1, 2D-MesssoftwareBT-2000M 2Metallanalyse SoftwareBT-JX2000

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