Streifen70 nmAbstand, eindimensionale Anordnung, Präzision bis ±0,25 nmZertifikate und Zertifikate ohne Zertifikat. Der Abstand mit dem Zertifikat muss auf die tatsächlichen Zahlen auf dem Zertifikat verweisen. Präzise holografische Streifen für ultrahochauflösende Mikroskope (25kx bis 1000kxPräzise Kalibrierung der horizontalen Richtung, sowie die genaue Kalibrierung der Instrumente im Nanoskala usw. Hohe Stabilität und hohe Anwendbarkeit.

Siliziumgröße:4×3×0,5 mmMuster Siliziumdioxid Herstellung (Wirbelbreite)35 nmHoch.35 nmDieser Parameter wird nicht angepasst).

Es gibt zwei Modelle:Modell 70-1DundModell 70-1DUTCVon ihnen.Modell 70-1DKalibrierung,Mit Herstellerzertifizierung,nicht nachverfolgbar;Modell 70-1DUTCKalibrierung,Zertifizierung,Rückverfolgbare Quellen,Zertifizierung (PTB, ein deutsches Gegenstück des NIST).

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