Siliziumgröße:4 * 3 * 0,5 mmMuster aus Aluminium (Höhe ca.90 nmBreite75 nmDieser Parameter ist nicht kalibriert, beachten Sie, dass sein Muster mit Siliziumfliechen bedeckt ist).2DHolographische Array, Abstand144 nmOberflächenspritz Wolframfolie, Genauigkeit ±1 nm.

Es gibt zwei Produkte:Modell 150-2DundModell 150-2DUTCUnter ihnenModell 150-2DKalibrierung,Mit Herstellerzertifizierung,nicht nachverfolgbar;Modell 150-2DUTCKalibrierung,Zertifizierung,Rückverfolgbare Quellen,Zertifizierung (PTB, ein deutsches Gegenstück des NIST).

Wir empfehlenModell 150-2DSeine einzigartigen Eigenschaften ermöglichen eine bequeme Anwendung, eine langlebige Probenarbeit und eine schnelle Kalibrierung und Messung im Kontaktmodus:

l 2DMuster,XAchsen undundAchsen gleichzeitig kalibrieren

l Selbst wenn die Sonde passiv ist, beeinflusst es den Kontrast nicht.

l Kontakt-Scan kann einen hohen Kontrast erhalten

l Vollständige Abdeckung spart Zeit bei der Suche nach dem gescannten Bereich

l Nicht nur hohe Vergrößerungsanwendungen, mittlere Vielfache5 kXEinzelne Kreise können noch deutlich unterschieden werden.

AFM-Abtippmodus-Scan

SEM Mittelvergrößerung

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